"Esta tesis trata sobre un interferómetro para medir perfiles de superficies de calidad óptica, el primer capitulo esta dedicado a hacer un repaso de que es un perfil de una superficie, como se mide y cuales son los principales parámetros que interesan de un perfil, en el capitulo dos se hace un tratamiento matemático formal primero utilizando ondas planas para mostrar al lector de manera clara que se pretende y posteriormente se hace el formalismo matemático utilizando haces gaussianos, en el tercer capitulo se muestra como se implemento el dispositivo y se describe de manera detallada su operación que se basa en utilizar tres haces gaussianos, uno de ellos se usa como haz de prueba para recoger la información de la superficie a medir, otro como haz de referencia y el tercero se modula en frecuencia y se utiliza como modulador, los tres haces se heterodinizan y se envían a un fotodetector, la señal del voltaje es pasada a un lock-in que separa la señal recogida por el haz de prueba y que contiene la información del perfil de la superficie en un punto, un sistema de escaneo controlado por una computadora personal que va recorriendo de manera micrométrica la muestra para recolectar los datos del perfil, estos datos son enviados hacia la computadora la cual los procesa, despliega y almacena en un archivo todo esto en tiempo real el perfil."