info:eu-repo/semantics/conferenceProceedings
AFM and XPS characterization of TiN thin films grown on nanoporous Al2O3 by using the DC sputtering technique assisted by balanced magnetron
Autor
CÉSAR OCTAVIO ENCINAS BACA
IGNACIO YOCUPICIO VILLEGAS
Institución
Resumen
Thin coatings continually are in progress and also them applications. Simple thin films present better
results with other metal doping in shape of multi-shells y nano-shells, sequential shell and
combinations of shells with different characteristics.
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