Caracterización óptica de materiales semiconductores cuaternarios III-V y de baja dimensionalidad II-VI

dc.contributorVargas Hernández, Carlos
dc.contributorAriza Calderón, Hernando
dc.creatorEspinosa Arbeláez, Diego Germán
dc.date.accessioned2021-01-25T15:21:14Z
dc.date.accessioned2022-09-29T13:17:10Z
dc.date.available2021-01-25T15:21:14Z
dc.date.available2022-09-29T13:17:10Z
dc.date.created2021-01-25T15:21:14Z
dc.date.issued2003-01-01
dc.identifierhttps://bdigital.uniquindio.edu.co/handle/001/5922
dc.identifier071512
dc.identifier.urihttp://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/3754084
dc.description.abstractEl estudio desarrollado en este trabajo de grado se centra en las propiedades ópticas, utilizando la técnica de fotorreflectancia, de nuevos materiales semiconductores, que surgen bien sea porque se forman heteroestructuras con características novedosas, como los pozos cuánticos ultradelgados, o bien, de nuevas estequiometrías propuestas como los materiales cuaternarios
dc.languagespa
dc.publisherFacultad de Ciencias Básicas y Tecnologías
dc.publisherArmenia
dc.publisherCiencias Básicas y Tecnologías - Maestría en Ciencias de los Materiales
dc.rightshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsAtribución-NoComercial 4.0 Internacional (CC BY-NC 4.0)
dc.rightsDerechos reservados Universidad del Quindío
dc.titleCaracterización óptica de materiales semiconductores cuaternarios III-V y de baja dimensionalidad II-VI
dc.typeTesis


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