Beyond the GUM: variance-based sensitivity analysis in metrology

artículo

Fecha

2016

Registro en:

10.1088/0957-0233/27/7/075006

0957-0233

1361-6501

https://doi.org/10.1088/0957-0233/27/7/075006

https://repositorio.uc.cl/handle/11534/33918

Autor

Lira, I.

Institución

Pontificia Universidad Católica de Chile

Materias

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