Validez y Fiabilidad de la Escala de Afectos Positivos y Negativos para Niños y Adolescentes (Panasn) en Estudiantes de Primaria – Trujillo

Abstract

En este trabajo se estudió las fuentes de validez de la Escala de Afectos Positivos y Afectos Negativos para Niños y Adolescentes en estudiantes de los 4 últimos años de primaria de entidades públicas. La muestra, la conformaron 500 infantes de entre 8 y 12 años de edad, 50% de ambos géneros, respectivamente. El instrumento, de siglas PANASN, fue creado por Sandin en 1997 y cuenta con dos factores: afectos positivos y afectos negativos. Los resultados obtenidos sugieren que el instrumento en estudio cuenta con respaldo de validez en fuentes basadas en el contenido (V > .96; IC 95%); en fuentes de validez basadas en la estructura interna con índices de ajuste (x2/gl<3; SRMR<.07; NFI>.90; RFI>.90 y PNFI>.50) y cargas factoriales (> .30) aceptables; con respecto a la invarianza entre sub-muestras hombres y mujeres, con modelos resistentes a los cambios: invarianza configuracional satisfactoria (X2/gl<3; SRMR<.07; NFI>.90; RFI>.90; PNFI>.50) e invarianza métrica con ajuste sin restricciones (SRMR≤.015; NFI≤.01; RFI≤.01). Y, finalmente, confiabilidad aceptable, en la población general y en cada sub-grupo (ω > .70).