Información Investigador: Delgado Arciniegas, Gerzon Eusebio
Registro en:
U01630000589
5676352
Autor
Delgado, Gerzon
Institución
Resumen
Maestría 1875 II - 2002 205 - 2005; 176 - 2003; 30 - 2001 Caracterización estructural de materiales empleando las técnicas de difracción de rayos X en monocristal y en muestras policristalinas. Noviembre de 2005 Msc en Química Aplicada +58 274 2401286;+58 274 2401372 Facultad de Ciencias. Agregado gerzon@ula.ve, gerzon@intercable.net.ve