Tesis
Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos
Registro en:
(Broch.)
Autor
Lopes, Manoel Cesar Valente
Institución
Resumen
Orientador: Vitor Baranauskas Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação Doutorado