Tesis
Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica
Registro en:
Autor
Hayashi, Marcelo Assaoka
Institución
Resumen
Orientador: Lisandro Pavie Cardoso Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin Resumo: Não informado Abstract: Not informed. Mestrado Física Mestre em Física