MÉTODO DE QUANTIFICAÇÃO DE ALUMÍNIO EM SÍLICA POR ESPALHAMENTO DE RAIOS-X ALIADO A QUIMIOMETRIA. Compreende um método de quantificação de alumínio em matrizes de sílica, utilizando-se equipamentos convencionais de EDXRF, considerando, além da emissão de raios-X característica do elemento A1, também picos de espalhamento da fonte de raios-X, e tal método apresenta com vantagens o fato de não ser destrutivo, pois requer mínima ou nenhuma preparação da amostra; apresentar simplicidade e rapidez de análises, com baixo custo, principalmente operacional; apresentar alta eficiência em se obter resultados, não gerar resíduos e, pode ser empregado como método de rotina.BRPI0502861 (A)G01N23/00C12Q1/00G01N33/00G01N33/00C12Q1/00 BR2005PI02861G01N23/00C12Q1/00G01N33/00G01N33/00C12Q1/00