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Structural, optical and electrical properties of cds thin films obtained by spray pyrolysis
Structural, optical and electrical properties of CdS thin films obtained by spray pyrolysis
Autor
Pérez González, A. M.
Santiago Tepantlan, C.
Valeriano Arreola, I.
Institución
Resumen
Películas delgadas de sulfuro de cadmio han sido preparadas por el método químico de roció pirolítico, variando la temperatura del substrato en el intervalo de 200 a 400ºC. Las propiedades estructurales del material obtenido fueron estudiadas utilizando la técnica de difracción de rayos X, y los patrones de difracción muestran la presencia de la fase hexagonal del CdS. Se obtuvo un ancho de banda entre 2.37 y 2.41 eV, en función de la temperatura de deposito. Las curvas de índice de refracción fueron obtenidas a partir del espectro de transmisión y por mediciones espectroelipsometricas, de manera que los parámetros ópticos fueron obtenidos usando los modelos de Swanepoel, Cauchy, Sellmeier y Wemple. La resistividad eléctrica en condiciones de oscuridad varío en el rango de 103-105Ω.cm, dependiendo de la temperatura del substrato. Un análisis de los efectos del método de deposito en las propiedades de las películas es presentado. Cadmium sulphide (CdS) thin films were prepared by means of the chemical spray pyrolysis technique. The substrate temperature was varied in the range from 200 to 400ºC. The structural properties of the semiconductor were characterized by X-ray diffraction; XRD patterns indicated the presence of single-phase hexagonal CdS. Direct band gap values of 2.37-2.41 eV were obtained. The refractive index is reported on depending on the substrate temperature, and was obtained from transmission spectra and from spectroellipsometry measurements. As a consequence, the optical parameters of the films were determined using the Swanepoel, Cauchy, Sellmeier and Wemple models. The resistivity of the films was found to vary in the range 103-105Ω.cm, depending on the substrate temperature.
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