dc.contributor | Donatelli, Gustavo Daniel | |
dc.contributor | Universidade Federal de Santa Catarina | |
dc.creator | Luca, Luciana Veloso de | |
dc.date | 2012-10-21T18:36:00Z | |
dc.date | 2012-10-21T18:36:00Z | |
dc.date | 2004 | |
dc.date | 2004 | |
dc.date.accessioned | 2017-04-03T20:18:29Z | |
dc.date.available | 2017-04-03T20:18:29Z | |
dc.identifier | 212593 | |
dc.identifier | http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/87341 | |
dc.identifier.uri | http://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/704468 | |
dc.description | Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial. | |
dc.description | A crescente competição mercadológica mundial e o atual cenário da indústria eletrônica no qual os produtos tornam-se cada vez mais complexos e os índices de qualidade e confiabilidade cada vez mais apertados, apontam para uma situação na qual a necessidade da utilização de técnicas que auxiliem na construção da confiabilidade de um produto desde as primeiras fases do seu | |
dc.format | 125 f.| il. | |
dc.language | por | |
dc.publisher | Florianópolis, SC | |
dc.subject | Metrologia científica | |
dc.subject | Medição | |
dc.subject | Industria eletronica | |
dc.subject | Confiabilidade (Engenharia) | |
dc.title | Recomendações para a implementação de ensaios de estresse térmico voltados à confiabilidade de hardwares eletrônicos | |
dc.type | Tesis | |