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Crecimiento y caracterización de películas delgadas del semiconductor ternario CdS1-xSex mediante ablación láser y depósito en baño químico
(Castillo Plata Fredy Josealdo y Palacios Mandujano Mario Alberto, 2017-09-07)
Producción y caracterización óptica de películas delgadas amorfas de SiC y SiC:H mediante pulverización catódica de radiofrecuencia
(Universidad Nacional Mayor de San MarcosPE, 2012)
Presenta un estudio sistemático de las propiedades ópticas de películas delgadas de a-SiC y a-SiC:H, crecidas en una atmósfera de argón e hidrógeno con la técnica pulverización catódica de radiofrecuencia. La caracterización ...